Приєднуйтесь 5 травня, о 13:00.
Вебінар для тих, хто працює у виробництві напівпровідників, мікроелектроніки і шукає способи поліпшити ефективність досліджень кремнієвих пластин або мікроелектромеханічних систем (MEMS).
Під час вебінару ви дізнаєтесь про потужні методи візуалізації і контрастування, за допомогою яких ви зможете отримувати чіткі і детальні зображення зразків, як при використанні електронних мікроскопів.
Експерт Leica Microsystems Майкл Допплер на реальних зразках і в режимі реального часу покаже, як подолати критерій роздільної здатності для досягнення бажаних результатів контролю – без занурення в олію або перенесення в SEM/REM.
Під час вебінару ви зможете поставити свої запитання спікеру.
Участь в заході – після реєстрації.
Зареєстровані учасники отримають запис вебінару після його завершення. Тому, якщо не зможете бути присутніми онлайн, матимете змогу переглянути його пізніше.
