Присоединяйтесь 5 мая, в 13:00.
Вебинар для тех, кто работает в производстве полупроводников, микроэлектроники и ищет способы улучшить эффективность исследований кремниевых пластин или микроэлектромеханических систем (MEMS).
Во время вебинара вы узнаете о мощных методах визуализации и контрастирования, с помощью которых вы сможете получать четкие и подробные изображения образцов, как при использовании электронных микроскопов.
Эксперт Leica Microsystems Майкл Допплер на реальных образцах и в режиме реального времени покажет, как преодолеть критерий разрешения для достижения желаемых результатов контроля – без погружения в масло или переноса в SEM/REM.
Во время вебинара вы сможете задать свои вопросы спикеру.
Участие в мероприятии – после регистрации.
Зарегистрированные участники получат запись вебинара после его завершения. Поэтому, если не сможете присутствовать онлайн, сможете просмотреть его позже.