Запрошуємо приєднатися до вебінару від компанії Leica Microsystems на тему “Мікроскопічний аналіз дефектів у гальваніці з використанням лазерно-індукованої спектроскопії пробою”.
Дата: 20 вересня
Час: 17:00 Київ | 15:00 Лондон | 18:00 Дубай
При виконанні гальванічного покриття забруднення, залишки або включення в продукті можуть швидко призвести до помітного зниження якості продукту або навіть до повного виходу з ладу цілих партій. Подібні забруднення та дефекти продуктів можна знайти при виробництві електроніки та автомобілів.
На цьому вебінарі Ханс-Ульріх Еккерт з Gerweck GmbH розповість, як технологія LIBS (лазерно-індукована спектроскопія пробою) використовується в процесі контролю якості для швидкого виявлення першопричини (забруднення) дефектів гальванічних виробів. Використовуючи типові приклади з цієї галузі, Ганс-Ульріх покаже, як такі зразки можна аналізувати за допомогою мікроскопа, який поєднує оптичну мікроскопію з лазерно-індукованою спектроскопією пробою (LIBS).
На вебінарі ви дізнаєтеся:
- Про типові дефекти поверхні в гальваніці та електроніці.
- Як можна швидко та ефективно аналізувати типові дефекти/забруднення за допомогою системи 2-в-1 для оптичного та хімічного мікроскопічного аналізу.
- Як використовувати лазерну спектроскопію пробою (LIBS) для визначення першопричини забруднень/дефектів.
Спікери вебінару:
Ханс-Ульріх Еккерт – керівник відділу розробки технології обробки поверхні в компанії Gerweck GmbH у Бреттені.
Костянтин Карташев – PhD з фізичної хімії та фахівець з LIBS в Leica Microsystems
