Приглашаем присоединиться к вебинару от компании Leica Microsystems на тему “Микроскопический анализ дефектов в гальванике с использованием лазерно-индуцированной спектроскопии пробы”.
Дата: 20 сентября
Время: 17:00 Киев | 15:00 Лондон | 18:00 Дубай
При выполнении гальванического покрытия загрязнения, остатки или включения в продукте могут быстро привести к заметному снижению качества продукта или даже к полному выходу из строя целых партий. Подобные загрязнения и дефекты продуктов можно найти при производстве электроники и автомобилей.
На этом вебинаре Ханс-Ульрих Эккерт из Gerweck GmbH расскажет, как технология LIBS (лазерно-индуцированная спектроскопия пробы) используется в процессе контроля качества для быстрого обнаружения первопричины (загрязнения) дефектов гальванических изделий. Используя типичные примеры этой области, Ганс-Ульрих покажет, как такие образцы можно анализировать с помощью микроскопа, сочетающего оптическую микроскопию с лазерно-индуцированной спектроскопией пробы (LIBS).
На вебинаре вы узнаете:
- О типичных дефектах поверхности в гальванике и электронике.
- Как быстро и эффективно анализировать дефекты/загрязнения с помощью системы 2-в-1 для оптического и химического микроскопического анализа.
- Как использовать лазерную спектроскопию пробы (LIBS) для определения первопричины загрязнений/дефектов.
Спикеры вебинара:
Ханс-Ульрих Эккерт – руководитель отдела разработки технологии обработки поверхности в компании Gerweck GmbH в Бреттене.
Константин Карташев – PhD по физической химии и специалист по LIBS в Leica Microsystems.