Укр
Укр Eng Рус

Промислові мікроскопи (матеріалознавство)

Напишіть нам

    Пропозиції

    Промислові мікроскопи Leica Microsystems Visoria M та Visoria P - Фото
    Leica Microsystems
    Промислові мікроскопи Leica Microsystems Visoria M та Visoria P
    Leica Microsystems Visoria M та Visoria P Це високопродуктивні мікроскопи, розроблені для ефективної, комфортної та точної роботи у…
    Ціна за запитом
    Система оптичної 3D-профілометрії Leica DCM - Фото
    Leica Microsystems
    Система оптичної 3D-профілометрії Leica DCM
    Система оптичної 3D-профілометрії Leica DCM8 Оптичні профілометри компанії Leica Microsystems для безконтактної побудови тривимірної карти поверхні зразка з…
    Ціна за запитом
    Система DM6 M LIBS від Leica Microsystems - Фото
    Leica Microsystems
    Система DM6 M LIBS від Leica Microsystems
    Leica Microsystems DM6 M LIBS Система для визначення елементного складу зразка на базі автоматизованого мікроскопа Leica DM6 m…
    Ціна за запитом
    Leica Microsystems DM3 XL, DM8000 і DM12000 M - Фото
    Leica Microsystems
    Leica Microsystems DM3 XL, DM8000 і DM12000 M
    Leica Microsystems DM3 XL, DM8000 і DM12000 M Мікроскопи для мікроелектроніки й природничих наук DM3 XL, DM8000 і…
    Ціна за запитом
    Leica Microsystems DM750 P і Leica DM4 P - Фото
    Leica Microsystems
    Leica Microsystems DM750 P і Leica DM4 P
    Leica Microsystems DM750 P і Leica DM4 P Поляризаційні прямі Мікроскопи DM750 P і Leica DM4 p від…
    Ціна за запитом
    Leica Microsystems DMIL M, DMi8 M, DMi8 C, DMi8 A, DM750 M, DM4 M і DM6 M - Фото
    Leica Microsystems
    Leica Microsystems DMIL M, DMi8 M, DMi8 C, DMi8 A, DM750 M,
    Leica Microsystems DMIL M, DMi8 M, DMi8 C, DMi8 A, DM750 M, DM4 M і DM6 M Інвертовані…
    Ціна за запитом
    Промислові мікроскопи (матеріалознавство)

    Промислові мікроскопи Leica представлені широкою лінійкою, починаючи від простих мікроскопів для повсякденних завдань та закінчуючи автоматизованими станціями зі спеціалізованим програмним забезпеченням, що дозволяє спростити та прискорити вивчення великих площ зразків.

    ...
    Докладніше Менше
    A