Рус
Укр Eng Рус

Промышленные микроскопы (материаловедение)

Напишите нам

    Предложения

    Промышленные микроскопы Leica Microsystems Visoria M и Visoria P - Фото
    Leica Microsystems
    Промышленные микроскопы Leica Microsystems Visoria M и Visoria P
    Leica Microsystems Visoria M и Visoria P Это высокопроизводительные микроскопы, разработанные для эффективной, комфортной и точной работы в…
    Цена по запросу
    Система оптической 3D профилометрии Leica DCM8 - Фото
    Leica Microsystems
    Система оптической 3D профилометрии Leica DCM8
    Система оптической 3D-профилометрии Leica DCM8 Оптические профилометры позволяют бесконтактно построить трехмерную карту поверхности образца с точностью до нанометров.…
    Цена по запросу
    Система DM6 M LIBS от Leica Microsystems - Фото
    Leica Microsystems
    Система DM6 M LIBS от Leica Microsystems
    Leica Microsystems DM6 M LIBS Система для определения элементного состава образца на базе автоматизированного микроскопа Leica DM6 M…
    Цена по запросу
    Leica Microsystems DM3 XL, DM8000 и DM12000 M - Фото
    Leica Microsystems
    Leica Microsystems DM3 XL, DM8000 и DM12000 M
    Leica Microsystems DM3 XL, DM8000 и DM12000 M Микроскопы для микроэлектроники и естественных наук DM3 XL, DM8000 и…
    Цена по запросу
    Leica Microsystems DM750 P и Leica DM4 P - Фото
    Leica Microsystems
    Leica Microsystems DM750 P и Leica DM4 P
    Leica Microsystems DM750 P и Leica DM4 P Поляризационные прямые микроскопы DM750 P и Leica DM4 P от…
    Цена по запросу
    Leica Microsystems DMIL M, DMi8 M, DMi8 C, DMi8 A, DM750 M, DM4 M и D - Фото
    Leica Microsystems
    Leica Microsystems DMIL M, DMi8 M, DMi8 C, DMi8 A, DM750 M,
    Leica Microsystems DMIL M, DMi8 M, DMi8 C, DMi8 A, DM750 M, DM4 M и DM6 M Инвертированные…
    Цена по запросу
    Промышленные микроскопы (материаловедение)

    Промышленные микроскопы Leica представлены широкой линейкой, начиная от простых микроскопов для повседневных задач и заканчивая автоматизированными станциями со специализированным программным обеспечением, позволяющим упростить и ускорить изучение больших площадей образцов.

    ...
    Подробнее Меньше
    A