Leica Microsystems представляє систему Leica EM ACE900, що допоможе підготувати зразки для детальної оцінки зображення за оптимальних умов:
- «Холодний щит» навколо зразка запобігає замерзанню молекул води на зразку.
- Точний температурний контроль під час всього процесу.
- Чистий ніж – свіже лезо для кожного розрізу запобігає забрудненню.
- Миттєве електронно-променеве покриття, яке фіксує детальну інформацію про поверхню.
- Захищене вакуумне перенесення на інші системи аналізу.
