Скануючий електронний мікроскоп Thermo Fisher Phenom Pharos G2 Desktop FEG-SEM купити в Україні — АЛТ Україна ЛТД
Укр
Укр Eng Рус

Скануючий електронний мікроскоп Thermo Fisher Phenom Pharos G2 Desktop FEG-SEM

Thermo Fisher Scientific

Thermo Fisher Phenom Pharos G2 Desktop FEG-SEM

Thermo Scientific Phenom Pharos G2 FEG-SEM перевершує багато підлогових РЕМ за якістю зображень, пропонуючи при цьому набагато кращий користувацький досвід. Ця модель пропонує типову продуктивність РЕМ та зручність завдяки своєму форм-фактору для академічних і промислових лабораторій, які до цього часу не розглядали РЕМ для своєї роботи. Швидке завантаження зразка гарантує пришвидшену заміну, завдяки чому ви отримуєте вищу продуктивність. Phenom Pharos G2 FEG-SEM виконує візуалізацію і аналіз настільки швидко, що робить його повноцінним портативним інструментом.

Брошура
Phenom-Pharos-G2-Desktop-FEG-SEM
Переваги Особливості Відгуки
Переваги

Унікальне джерело польової емісії

Унікальний серед настільних РЕМ, Phenom Pharos G2 FEG-SEM пропонує джерело польової емісії, яке гарантує високу яскравість, чітке зображення і стабільний струм пучка.

Відмінна роздільна здатність

Phenom Pharos G2 FEG-SEM забезпечує роздільну здатність 2,0 нм при напрузі 20 кВ. Така роздільна здатність дозволяє побачити форму наночастинок, недосконалості покриттів або інші особливості, які були б упущені вольфрамовими або іншими настільними СЕМ.

Делікатна візуалізація

Завдяки діапазону напруги до 1 кВ, Phenom Pharos G2 FEG-SEM дозволяє отримувати зображення чутливих до променя зразків, таких як полімери, а також ізоляційних зразків, без необхідності нанесення покриття. В результаті нанорозмірні особливості поверхні не затушовуються.

Вища продуктивність

У той час як растрові електронні мікроскопи мають репутацію складних в розміщенні і експлуатації, Phenom Pharos G2 FEG-SEM буквально вимагає лише столу і менше однієї години навчання. Магістранти, відвідувачі або інші дослідники, які зазвичай не мають навичок роботи з висококласними ФЕГ- світлооптичними мікроскопами, можуть легко використовувати Phenom Pharos G2 FEG-SEM для створення якісних зображень.

Максимум інформації в одному аналізі

На Phenom Pharos G2 FEG-SEM морфологічна інформація отримується разом з композиційною інформацією завдяки вбудованим в систему детекторам SE, BSE і EDS. Для проведення експериментів з контрольованою температурою або електричним струмом доступний ряд тримачів зразків.

Особливості
Роздільна здатність 2,0 нм (SE), 3 нм (BSE) при 20 кВ

10 нм (SE) при 3 кВ

Діапазон електронно-оптичного збільшення До 2 000 000x
Світлове оптичне збільшення 27 – 160x
Напруга прискорення За замовчуванням: 5 кВ, 10 кВ і 15 кВ

Розширений режим: регульований діапазон між 1 кВ і 20 кВ

Вакуумні режими Режим високого вакууму

Режим середнього вакууму

Інтегрований режим зменшення заряду (режим низького вакууму)

Детектор Детектор зворотно-розсіяних електронів (стандартний)

Енергодисперсійна рентгенівська спектроскопія (EDS) (опція)

Детектор вторинних електронів (опція)

Розмір зразка До 25 мм в діаметрі (32 мм опціонально)
Висота зразка До 35 мм (100 мм опціонально)
Оставить отзыв
Дізнайтесь більше

    A