Портативний аксесуар SurveyIR™ для ІЧ-Фур'є мікроспектроскопії купити в Україні - АЛТ Україна ЛТД
Укр
Рус Укр Eng

Портативний аксесуар SurveyIR™ для ІЧ-Фур’є мікроспектроскопії

Thermo Fisher Scientific

Новий аксесуар SurveyIR від виробника Czitek уможливлює створення простої у використанні переносної портативної системи ІЧ-Фур’є мікроспектроскопії. SurveyIR можна встановити у кюветному відділенні більшості комерційних настільних спектрометрів (Nicolet Summit, Nicolet IS50).

Аксесуар SurveyIR має просторову роздільну здатність 100 мікрон і підтримує три режими роботи: пропускання, відбиття та ППВВ (ATR). У всіх режимах використовується детектор DTGS. Унікальний ергономічний дизайн забезпечує безперешкодну взаємодію між користувачем та приладом. Компактна конфігурація SurveyIR та оптична конструкція без необхідності юстування полегшує установку у кюветне відділення ІЧ-Фур’є спектрометра.

SurveyIR_аксесуар
Переваги Особливості Відгуки
Переваги
  • Три режими збору спектральних даних: пропускання, відбиття та ATR.
  • Три режими освітлення: пропускання, відбиття та темне поле.
  • Прозорий алмазний кристал у ATR.
  • 5-мегапіксельна цифрова камера з 2-кратним оптичним збільшенням.
  • Велике поле зору 1900 мкм.
  • Програмне забезпечення eSpot включає відображення, обробку, фіксацію, документування та зберігання зображень.
  • Програмне забезпечення eSpot забезпечує інтерфейс для вибору режимів відбору проб та освітлення. Завдяки простоті програмного забезпечення перемикання між різними режимами збору спектральних даних або освітлення здійснюється просто шляхом вибору режиму з випадаючого меню у верхній частині екрана.
Особливості

Аксесуар SurveyIR може застосовуватися в таких галузях:

  • ІЧ-Фур’є мікроспектроскопія волокон, фарб, полімерів, тканин, фармацевтичних активних інгредієнтів, допоміжних речовин, наркотиків, вибухових речовин та мінералів.
  • Аналітичні дослідження.
  • Контроль якості.
  • Наука та освіта.
  • Криміналістичні лабораторії.
  • Визначення характеристик наркотиків.
  • Аналіз волокон.
  • Ідентифікація забруднюючих речовин.
  • Визначення характеристик поверхневих дефектів.
Оставить отзыв
Дізнайтесь більше

    A