Thermo Scientific Talos F200X STEM – це скануючий просвічуючий електронний мікроскоп, який поєднує в собі чудові зображення високої роздільної здатності STEM і TEM з найкращим в галузі методом енергодисперсійної рентгенівської спектроскопії (EDS) для виявлення сигналів. 2D/3D хімічна характеризація з картуванням складу виконується 4 колоночними детекторами SDD Super-X з унікальною чистотою.
Брошура
Доступний з широким вибором польових емісійних пістолетів високої роздільної здатності (FEG)
Виберіть високояскравий X-FEG або надвисокояскравий холодний польовий емісійний пістолет (X-CFEG). X-CFEG поєднує в собі найкращі (S)TEM зображення з найвищою енергетичною роздільною здатністю.
Інтуїтивно зрозуміле програмне забезпечення
ПЗ Thermo Scientific Velox забезпечує швидке і просте отримання та аналіз мультимодальних даних.
Швидше визначення хімічного складу
Швидкий, точний кількісний EDS-аналіз виявляє нанорозмірні деталі в 2D і 3D з високою точністю.
Більш якісні дані зображень
Високопродуктивна STEM-зйомка з одночасним виявленням декількох сигналів забезпечує кращу контрастність для високоякісних зображень.
Більше простору
Додайте спеціальні тримачі зразків для динамічних експериментів.
Високоякісні (S)TEM-зображення і точний EDS
Отримуйте високоякісні зображення TEM або STEM за допомогою інноваційного та інтуїтивно зрозумілого інтерфейсу програмного забезпечення Velox. Унікальна корекція поглинання EDS в програмному забезпеченні Velox дозволяє проводити високоточне кількісне визначення.
Висока повторюваність збору даних
Всі щоденні налаштування ТЕМ, такі як фокусування, висота евентрації, положення променя, апертура конденсора, точки повороту пучка і автоматизований центр обертання, що гарантує оптимальні умови отримання зображень з самого початку. Експерименти можна повторювати з відтворюваною точністю, що дозволяє зосередитися на дослідженні, а не на роботі з приладом.
Підвищена продуктивність
Ультрастабільна колонка та дистанційне керування за допомогою камери SmartCam і об’єктивів з постійною потужністю для швидкого режиму і високовольтних перемикачів (HT). Швидке і просте перемикання для багатокористувацького середовища.
| Роздільна здатність лінії HRTEM | ≤0.10 нм |
| Роздільна здатність STEM | ≤0,16 нм (X-FEG)
≤0,14 нм при 100 пА (X-CFEG) |
| Система Super-X EDS | 4 SDD симетрична конструкція, без вікон, захищена затвором |
| Енергетична роздільна здатність спектроскопії електронних втрат енергії (EELS) | ≤0,8 еВ (X-FEG)
≤0,3 еВ (X-CFEG) |
| Яскравість струменя при 200 кВ | 1,8×109 А /см2 срад (X-FEG)
2,4×109 А /см2 срад (X-CFEG) |
