Рус
Укр Eng Рус

Новости

Вебинар
Вебинар: «Металлографические решения от Leica Microsystems»
Участие компании АЛТ Украина ЛТД в Третьей всеукраинской научно-практической конференции с междунаро
Новость
Первый настольный многоядерный ЯМР спектрометр от Oxford Instruments
12-13 сентября в Харькове прошла Научно-практическая конференция с международным участием «Актуальны
Кейсы
«АЛТ Украина Лтд» примет участие в XII международной выставке LABComplEX 2019
Вебинар
Технология флуоресцентной микроскопии THUNDER: высокая производительность, универсальность и простот
Научно-практическая конференция с международным участием «Актуальные вопросы клинической и производс
Мероприятие
Семинар по работе на металлографическом комплексе на базе микроскопа Leica DMi8 A
Будьте в курсе новостей

    A