Промышленные микроскопы Leica представлены широкой линейкой, начиная от простых микроскопов для повседневных задач и заканчивая автоматизированными станциями со специализированным программным обеспечением, позволяющим упростить и ускорить изучение больших площадей образцов. Среди представленных моделей есть решения для разных направлений промышленности, к примеру: металлография, микроэлектроника, автомобильная промышленность и т.д. Микроскопы имеют модульную конструкцию, что позволяет формировать индивидуальные комплектации под различные задачи лабораторий.
Промышленные микроскопы Leica DMIL M / Leica DMi8 M / Leica DMi8 C / Leica DMi8 A / Leica DM750 M / Leica DM2700 M / Leica DM4 M / Leica DM6 M
Высококлассные объективы позволяют выявить малейшие детали с увеличением до 1000х;
Возможность работы в разных контрастных методах: светлое поле, темное поле, поляризация, ДИК (DIC) контраст и флуоресценция;
Возможность моторизации предметных столиков и механизмов фокусировки;
Доступны интеллектуальные системы, имеющие кодированные компоненты – информация о настройках микроскопа передаётся в ПО автоматически; Широкие предметные столики инвертированных микроскопов серии DMi8 способны выдерживать образцы весом до 30 кг;
Микроскопы могут оснащаться системой макронаблюдения (объектив 0,7х) для быстрого осмотра поверхности образца и поиска областей интереса.
Поляризационные прямые микроскопы Leica DM750 P / Leica DM2700 P / Leica DM4 P
Линейка поляризационных микроскопов включает несколько моделей с разной степенью автоматизации. Они могут оснащаться всеми необходимыми элементами для поляризационных исследований (линзами Бертрана, кварцевыми клинами, цельными и четвертными фазовыми пластинами и т.д.) Также на микроскопы можно установить высокоточные спектрометры, что позволит применять их:
В криминалистике для исследования волокон;
В промышленности для контроля качества угля;
В изучении объектов искусства для колориметрического анализа.
Микроскопы для микроэлектроники Leica DM3 XL / Leica DM8000 M / Leica DM12000 M
Специализированные микроскопы для микроэлектроники представлены тремя моделями, предлагающими различный уровень автоматизации и оснащения. Они позволяют работать как с небольшими объектами (к примеру чипами), так и с полупроводниковыми пластинами диаметром до 12 дюймов. Уникальная система OUV от Leica дает возможность повысить разрешающую способность оптики до 0,14 мкм используя освещение за пределами видимого спектра.
Система для определения элементного состава образца на базе автоматизированного микроскопа Leica DM6 M LIBS
Полностью автоматизированная конструкция микроскопа Leica DM6 M позволяет проводить сканирование большой поверхности образца (к примеру, для определения микрозагрязнений на фильтре согласно стандартов: ISO 16232, VDA 19, ISO 4406/ISO 4407). Но возможности уникального решения от Leica этим не ограничиваются и предлагают функционал электронного микроскопа на базе оптического. Благодаря оснащенности модулем для проведения LIBS анализа, система позволяет получить информацию об элементном составе необходимого участка образца, что дает возможность определить их источник форму и размер микрочастиц.
Система оптической 3D профилометрии Leica DCM8
Оптические профилометры позволяют бесконтактно построить трехмерную карту поверхности образца с точностью до нанометров. Решение Leica DCM8 базируется на конфокальном микроскопе, который использует 3 лазера для построения оптического изображения с высоким разрешением. Его уникальность заключается в применении интерферометра, что позволяет значительно повысить разрешающую способность по оси Z и достичь точности до 0,1 нм.
