Вебинар: Как повысить эффективность проверки микроэлектронных компонентов

Присоединяйтесь 5 мая, в 13:00.

Вебинар для тех, кто работает в производстве полупроводников, микроэлектроники и ищет способы улучшить эффективность исследований кремниевых пластин или микроэлектромеханических систем (MEMS).  

Во время вебинара вы узнаете о мощных методах визуализации и контрастирования, с помощью которых вы сможете получать четкие и подробные изображения образцов, как при использовании электронных микроскопов. 

Эксперт Leica Microsystems Майкл Допплер на реальных образцах и в режиме реального времени покажет, как преодолеть критерий разрешения для достижения желаемых результатов контроля — без погружения в масло или переноса в SEM/REM.

Во время вебинара вы сможете задать свои вопросы спикеру. 

Участие в мероприятии — после регистрации. 

Зарегистрированные участники получат запись вебинара после его завершения. Поэтому, если не сможете присутствовать онлайн, сможете просмотреть его позже.