Новый электронный микроскоп Thermo Scientific Apreo 2 SEM расширяет доступ к высокопроизводительным изображениям и аналитике для всех уровней экспертизы в микроскопии. Благодаря технологии Thermo Scientific ChemiSEM, уникальной возможности получения изображений в реальном времени, информация о составе всегда доступна с помощью интуитивно понятного интерфейса.
Брошура
Высокая производительность, разрешение и контрастность
Сочетание передовой оптики, детектирования и автоматизации в Apreo 2 делает возможным получение изображений с высоким разрешением даже для пользователей, не имеющих опыта работы с РЭС.
Широкий выбор типов образцов
Apreo 2 был разработан для максимальной гибкости. Высококачественное изображение высокого разрешения возможно независимо от свойств образцов. Изоляторы, чувствительные к лучу или магнитные материалы можно легко исследовать благодаря уникальной оптике Apreo 2, опциям обнаружения и управления лучом.
Количественный EDS в реальном времени с ChemiSEM
Информация об элементах всегда под рукой благодаря ChemiSEM, которая обеспечивает количественное элементное картирование в реальном времени для беспрецедентно быстрого получения результата и простоты использования.
Быстрая и простая загрузка образцов
Легкий доступ к столику, удобный держатель для нескольких образцов и быстрая откачка гарантируют, что время загрузки образцов не будет потрачено впустую. Автоматизированная процедура установки и удаления диафрагмы ограничения давления (PLA) позволяет плавно переключаться между высоким и низким вакуумом, не открывая камеру.
Расширенная автоматизация
От оптики до получения изображения, Apreo 2 предоставляет ряд автоматизированных функций, чтобы сделать время съемки максимально эффективным и результативным. Технология вспышки автоматизирует точную настройку изображения, а уникальная функция отмены позволяет эффективно исследовать условия съемки. Программное обеспечение Thermo Scientific Maps автоматизирует съемку больших площадей с помощью до 4 различных одновременных сигналов
Эффективность на большом рабочем расстоянии
Apreo 2 – единственный РЭМ, который обеспечивает высокое разрешение (1 нм) и отличное качество изображения при аналитическом рабочем расстоянии (10 мм). Морфологию образца, топографию и информацию о поверхности можно одновременно исследовать, находясь на безопасном расстоянии от полюсного образца. Благодаря высокоскоростному и высокочувствительному детектору обратного рассеяния в объективе, BSE обнаруживаются даже при очень низких токах пучка (всего несколько пА).
| Apreo 2 S | Apreo 2 C | |
| Роздільна здатність |
|
|
| Стандартні детектори | ETD, T1, T2, T3, IR-CCD, Nav-Cam+ | ETD, T1, T2, IR-CCD, Nav-Cam+ |
| PivotBeam | Режим для каналізації електронів у вибраній області (також відомий як режим «гойдання променя»). | Не застосовується |
| Додаткові детектори | DBS, LVD, DBS-GAD, STEM 3+, RGB-CLD, EDS, EBSD, WDS, Raman, EBIC тощо. | |
| Технологія ChemiSEM (опціонально) | Доступне кількісне забарвлення СЕМ-зображень в реальному часі на основі енергодисперсійної рентгенівської спектроскопії (EDS). Включені функції Point & ID, лінійне сканування, регіон, карти елементів і надійна кількісна оцінка за Нораном. | |
| Діапазон енергії приземлення | 20 еВ – 30 кеВ | |
| Регулювання променю (уповільнення пучка) | Від -4000 В до +600 В стандартно для кожної системи | |
| Режим низького вакууму | Опціонально: тиск в камері 10 – 500 Па | |
| Предметний столик | 5-осьовий моторизований евцентричний столик, 110 x 110 мм2 з діапазоном нахилу 105°. Максимальна вага зразка: 5 кг в ненахиленому положенні. | |
| Максимальний струм пучка | 50 нА (також доступна конфігурація на 400 нА) | |
| Стандартний тримач зразка | Багатоцільовий тримач, унікальним чином встановлюється безпосередньо на столик, вміщує до 18 стандартних зразків (Ø12 мм), три попередньо нахилених зразка, зразки поперечного перерізу і два попередньо нахилених тримача для рядів (38° і 90°) і не вимагає інструментів для установки зразка. | |
| Камера | 340 мм внутрішня ширина, 12 портів, можливі три одночасні детектори EDS, два під кутом 180°, копланарні EDS/EBSD ортогональні до осі нахилу столика | |