Системы ионного травления Leica Microsystems EM TIC 3X, EM RES102

Leica Microsystems

Leica Microsystems EM TIC 3X, EM RES102

Системы ионного травления EM TIC 3X, EM RES102 от компании Leica Microsystems.

Серия приборов для ионного травления Leica включает варианты СЭМ и ПЭМ. Оба решения представляют собой автоматизированные приборы с гибкими настрайками всех необходимых для работы параметров.

Системы Leica EM TIC 3X для СЭМ оснащена тремя ионными пушками, что дает возможность значительно ускорить процесс травления. Система Leica EM RES102 для ПЭМ оснащена двумя ионными пушками, которые могут обрабатывать образец с одной или двух сторон на выбор пользователя, что дает возможность использовать модель и для СЭМ.

Хочу заказать

Преимущества Особенности Отзывы

Преимущества

Ускорение работы

Удвоенная скорость ионного фрезерования новейшей модели EM TIC 3X может быть дополнительно увеличена с помощью пяти различных этапов, адаптированных к вашим требованиям.

Воспроизводимость результатов

EM TIC 3X обеспечивает высококачественную обработку поверхностей практически любого материала при комнатной или пониженной температуре с максимальным раскрытием внутренних структур образца в почти естественном состоянии.

Гибкость

Системы ионного травления Leica могут быть адаптированы к потребностям конкретной лаборатории или проекта. Гибкий выбор ступеней делает EM TIC 3X идеальным прибором не только для высокопроизводительных, но и для контрактных лабораторий.

Обработка чувствительных образцов

Док-порт VCT в сочетании с прибором EM TIC 3X обеспечивает идеальный рабочий процесс для обработки любых экологически чувствительных и/или криогенных образцов.

Особенности

Совместимость с системами нанесения покрытий EM ACE600 и EM ACE900, а также системами SEM.
Возможность соединения с системой предварительной подготовки образцов путем распиливания, фрезерования, шлифования и полировки EM TXP.

Оставить отзыв

Узнайте больше