Leica Microsystems Visoria M — это современный материаловедческий микроскоп, разработанный для повышения эффективности и комфорта в повседневной работе в металлургической, электронной, полимерной промышленности и лабораториях материаловедения. Visoria M сочетает передовые функции, эргономичный дизайн и цифровые решения для оптимизации рабочих процессов.

Ключевые преимущества Visoria M

  1. Цифровая конфигурация
    Одна из доступных модификаций микроскопа — 10″ планшет вместо окуляров. Такой вариант позволяет снизить нагрузку на глаза и шею, облегчает обсуждение результатов с коллегами, а также экономит пространство на рабочем столе.

  2. Интеллектуальное управление освещением
    Кодированные функции автоматически изменяют яркость при изменении увеличения или метода контраста, согласно сохраненных настроек, чем обеспечивают оптимальное освещение и экономят время.

  3. Эргономичный дизайн
    Возможность индивидуальной настройки элементов управления, адаптация под правую или левую руку. Доступны дополнительные эргономичные аксессуары для настройки высоты и угла обзора.
  4. Оптимизированная документация
    Снимок делается одним нажатием кнопки на штативе микроскопа. Изображение сохраняется с метаданными и автоматически добавленной масштабной линейкой – для точного анализа и архивирования.

  5. Программная платформа Enersight
    Visoria M интегрируется с мощной платформой Enersight, что обеспечивает весь спектр цифровых функций для эффективной работы с изображениями. Пользователь получает инструменты для сравнения, измерения, нанесения комментариев и сшивания снимков (XY Stitching). Также доступны функции расширенной глубины резкости (EDOF), многоканальной флуоресценции и комбинирования методов контрастирования — все в едином интуитивно понятном интерфейсе.

Сферы применения

  • Металлургия и материаловедение
    Visoria M эффективен для инспекции и локализации структур и дефектов в металлах и сплавах.
  • Электроника
    В электронике система повышает эффективность инспекции и контроля качества, в частности при проверке печатных плат, микросхем и микроэлектронных сборок.
  • Полимеры и композиты
    Visoria M обеспечивает исследование дефектов структуры и контроль качества полимеров.
  • Лабораторный анализ
    Прекрасно подходит для задач по контролю качества, анализу отказов и научно-исследовательских и опытно-конструкторских работ (R&D).