Високотехнологічні комбіновані системи, що поєднують функціонал скануючого електронного мікроскопа (SEM) і сфокусованого іонного пучка (FIB).
...Такі мікроскопи дозволяють не лише отримувати надвисокоточні зображення поверхні з нанометровою роздільною здатністю, але й виконувати прецизійне модифікування, різання та підготовку зразків безпосередньо в камері мікроскопа.
Докладніше
Менше