Высокотехнологичные комбинированные системы, сочетающие функционал сканирующего электронного микроскопа (SEM) и сфокусированного ионного пучка (FIB).
...Такие микроскопы позволяют не только получать сверхвысокоточные изображения поверхности с нанометровым разрешением, но и выполнять прецизионное модифицирование, резку и подготовку образцов непосредственно в камере микроскопа.
Подробнее
Меньше