Скануючий електронний мікроскоп Thermo Fisher Phenom Pharos G2 Desktop FEG-SEM
Унікальне джерело польової емісії Унікальний серед настільних РЕМ, Phenom Pharos G2 FEG-SEM пропонує джерело польової емісії, яке гарантує високу яскравість, чітке зображення і стабільний струм пучка. Відмінна роздільна здатність Phenom Pharos G2 FEG-SEM забезпечує роздільну здатність 2,0 нм при напрузі 20 кВ. Така роздільна здатність дозволяє побачити форму наночастинок, недосконалості покриттів або інші особливості, які були б упущені вольфрамовими або іншими настільними СЕМ. Делікатна візуалізація Завдяки діапазону напруги до 1 кВ, Phenom Pharos G2 FEG-SEM дозволяє отримувати зображення чутливих до променя зразків, таких як полімери, а також ізоляційних зразків, без необхідності нанесення покриття. В результаті нанорозмірні особливості поверхні не затушовуються. Вища продуктивність У той час як растрові електронні мікроскопи мають репутацію складних в розміщенні і експлуатації, Phenom Pharos G2 FEG-SEM буквально вимагає лише столу і менше однієї години навчання. Магістранти, відвідувачі або інші дослідники, які зазвичай не мають навичок роботи з висококласними ФЕГ- світлооптичними мікроскопами, можуть легко використовувати Phenom Pharos G2 FEG-SEM для створення якісних зображень. Максимум інформації в одному аналізі На Phenom Pharos G2 FEG-SEM морфологічна інформація отримується разом з композиційною інформацією завдяки вбудованим в систему детекторам SE, BSE і EDS. Для проведення експериментів з контрольованою температурою або електричним струмом доступний ряд тримачів зразків.
| Роздільна здатність | 2,0 нм (SE), 3 нм (BSE) при 20 кВ 10 нм (SE) при 3 кВ |
| Діапазон електронно-оптичного збільшення | До 2 000 000x |
| Світлове оптичне збільшення | 27 - 160x |
| Напруга прискорення | За замовчуванням: 5 кВ, 10 кВ і 15 кВ Розширений режим: регульований діапазон між 1 кВ і 20 кВ |
| Вакуумні режими | Режим високого вакууму Режим середнього вакууму Інтегрований режим зменшення заряду (режим низького вакууму) |
| Детектор | Детектор зворотно-розсіяних електронів (стандартний) Енергодисперсійна рентгенівська спектроскопія (EDS) (опція) Детектор вторинних електронів (опція) |
| Розмір зразка | До 25 мм в діаметрі (32 мм опціонально) |
| Висота зразка | До 35 мм (100 мм опціонально) |