Висока швидкість роботи
Надшвидке проведення аналізу досягається завдяки вибору режиму в один клік, складному програмному забезпеченню та конфокальному скануванню HD без рухомих частин.
Для поверхонь будь-яких форм
У вашій поверхні складні форми й круті схили? Досягніть вертикального дозволу до 2 нанометрів, використовуючи конфокальну HD-мікроскопію. Поверхня гладка з мікровиступами та западинами? Виберіть свій режим інтерферометрії: розширений PSI (ePSI), з фазовим зрушенням (PSI) або вертикального сканування (VSI) для дозволу до 0,1 нанометра.
Швидкий збір даних
Leica DCM8 використовує інноваційну технологію сканування мікродисплеїв високої чіткості. Відсутність рухомих частин у голівці датчика гарантує швидкий і відтворювальний збір даних. Крім того, вбудована камера HD CCD має велике поле огляду, що дозволяє аналізувати значну частину поверхні зразка за один раз. А щоб отримати безшовну й точну модель ще більшої площі, просто виберіть надшвидкий режим зшивання XYtopography.
Зображення високої чіткості
Завдяки поєднанню високоякісної оптики, камери HD CCD і світлодіодних джерел червоного, зеленого, синього та білого світла, Leica DCM8 забезпечує дивовижні кольорові зображення високої чіткості. Послідовне включення світлодіодів дає змогу записувати інформацію про реальний колір у кожному пікселі. Ви отримуєте кришталево чисту візуалізацію вашого зразка.