Цифровий мікроскоп DVM6

Гнучке дослідження різних зразків

Легко й швидко переходьте від макро- до мікрорівня: отримуйте загальний огляд зразка та миттєво розглядайте найдрібніші деталі завдяки діапазону зуму 16:1 і трьом парфокальним об’єктивам PlanApo. Виявляйте деталі розміром до 0,4 мкм.

Об’єктиви під різні потреби

• Об’єктив з низьким збільшенням: підходить для огляду великих областей зразка, що допомагає швидко знаходити та виділяти цікаві ділянки. Забезпечує максимальне поле зору 43,75 мм, велику робочу відстань до 60 мм та збільшення до 190×.
• Об’єктив із середнім збільшенням: швидко та легко візцалізуйте більше деталей під час щоденної роботи. Має максимальне поле зору 12,55 мм, комфортну робочу відстань до 33 мм та діапазон збільшення 46×–675×.
• Об’єктив з високим збільшенням: роздивіться найдрібніші деталі зразка — до 425 нм. Максимальне поле зору — 3,60 мм, збільшення — до 2 350×.

Різні конфігурації DVM6

Якщо ваш зразок занадто великий або об’ємний для стандартних конфігурацій DVM6, модульна система DVM6 M пропонує більше гнучкості для широкого спектра застосувань. За допомогою спеціального адаптера інтерфейсу модуль зуму DVM6 M можна використовувати з обраними штативами для стереомікроскопів Leica M  серії, щоб працювати з великими зразками (максимальний хід предметного столика: 150 × 100 мм) та високими об’єктами (до 340 мм).

DVM6 з об'єктивом низького збільшення, колоною висотою 420 мм і універсальною основою штативу XL.

Перегляд під різними кутами

Функція  нахилу головки дозволяє спостерігати зразок під кутами від −60° до +60° і краще бачити складні деталі. Ви можете досліджувати зразок з різних ракурсів, обертаючи та переміщуючи столик, щоб дістатися будь-якої точки в межах 70 × 50 мм ходу. https://www.leica-microsystems.com/fileadmin/video/lms/Industry/dvm6/Leica-DVM6-Digital-Microscope-Tilting-E.mp4

Детальний огляд структури зразка

• розкрийте додаткові деталі, комбінуючи різні варіанти освітлення та контрастування;
• досліджуйте текстуровані поверхні зразків, використовуючи один або всі чотири сегменти кільцевого освітлювача (RL);
• візуалізуйте плоскі зразки у відбитому світлі за допомогою коаксіального освітлення (CXI);
• вивчайте важкодоступні області, наприклад отвори або прозорі матеріали з освітлювачем прохідного світла (BLI);
• зменшуйте відблиски на поверхнях, таких як полірований метал, за допомогою дифузного адаптера;
• виявляйте забруднення завдяки різним властивостям матеріалів за допомогою поляризаційного адаптера.

1. Знято з використанням об'єктива з низьким збільшенням, 10-кратний зум. Без BLI / з BLI 2. Знято з використанням об'єктива із середнім збільшенням, 1-кратний зум. Кільцеве освітлення / дифузорний адаптер / поляризаційний адаптер

Швидко отримуйте чіткі зображення

Починайте дослідження зразка одразу, використовуючи автофокус DVM6. Безперервний автофокус підтримує різні ділянки зразка в фокусі під час переміщення. Це особливо корисно, коли висота зразка змінюється. Просто замініть об’єктив, щоб змінити збільшення, коли досягнуто межі діапазону зуму.  Перефокусування не потрібне — зразок залишається в фокусі завдяки парфокальним об’єктивам.

Просте керування

Легко змінюйте ракурс під час дослідження зразків. Нахил легко здійснити однією рукою, без додаткових механізмів блокування чи розблокування. Навіть під час нахилу зразок залишається в фокусі, адже вісь нахилу точно вирівняна з фокусною точкою.