Інтегрованість
Системи прецизійної підготовки та полірування Leica припускають інтегроване управління технологічним процесом з автоматичним механізмом напрямку E-W, регульованим зусиллям управлінням подачею і функцією зворотного відліку, які позбавляють користувача від трудомісткої рутинної підготовки зразків.
Вбудований стереомікроскоп
Дослідження зразка за допомогою вбудованого стереомікроскопа позбавляє дослідників від необхідності оцінювати поверхню зразка, що підвищує ефективність роботи.
Вбудовані інструменти
Набір вбудованих інструментів дозволяє фрезерувати, пиляти, свердлити, шліфувати та полірувати зразок безпосередньо в системі. Можливість спостерігати за процесом за допомогою стереомікроскопа призводить до економії часу і витрат.
Контроль багатошарових зразків
Об'єднання системи цільового наплавлення Leica EM TXP і світлового мікроскопа Leica DM2700 M дозволяє скоротити необхідну процедуру, спростити робочий процес і отримати надійні й точні результати.
- Можливість фрезерування, розпилювання, шліфування та полірування зразка
- Вбудований стереомікроскоп
- Поворотний важіль для спостереження зразка під кутом до 90° до лицьової поверхні